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          實驗室用礦物研究光學顯微鏡都配有顯微成像裝置

          實驗室用的材料檢測光學顯微鏡都配有顯微成像裝置

          采用光學放大是檢驗半導體材料和器件的主要方法之一。
           
          它包括科研金相顯微鏡、低倍立體多功能顯微鏡以及低倍和高倍
          三目非立體偏光顯微鏡.

          此外,多功能顯微鏡中各種附屬裝置如干涉儀、相襯和干涉襯度也是

          很有用的.鑒于大多數半導體對可見光不透明,

          偏振光研究(在礦物研究中廣泛使用)通常只有采用紅外轉換器
          代替常規的目鏡時才能進行.

          為了儲存各種光學檢驗的結果,常規地使用低倍和高倍
          拍攝技術.大多數實驗室用的金相顯微鏡都配有顯微成像裝置.

          若需要更高的放大倍數,尤其是要同時增加景深時,可使用掃描電子顯微鏡.

          由于它們的價格、復雜性和規模,妨礙了它們象光學顯微鏡那樣廣泛地應用.

          但是,它們被引進半導體工業后,對微電路相互連接系統的了解
          已經產生了非常大的影響.

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